À propos

Recherche

François Schiettekatte est un spécialiste des interactions des faisceaux d’ions avec les matériaux, plus précisément de l’analyse par faisceaux d’ions (IBA) et de l’implantation ionique. En IBA, il a entre autres développé le code de simulation Corteo utilisé dans différents laboratoires de par le monde et servant de base à d’autres codes largement répandus, et développe présentement une chambre permettant de faire de l’IBA et de la caractérisation par effet Raman pendant l’exposition des matériau à, ou leur dépôt par un plasma. Il est également spécialiste de l’implantation ionique, ayant en particulier développé une expertise sur le dommage dans les semi-conducteurs, de leur amorphisation et relaxation jusqu’à l’utilisation des défauts pour modifier les structures quantiques en passant par les défauts dans les matériaux exposés à un environnement spatial simulé. Il est en outre spécialiste des réactions à l’état solide à l’échelle nanométrique, que son groupe a étudié à l’aide de diverses techniques, dont la nanocalorimétrie, en observant par exemple des couches de Ni de quelques nanomètres d’épaisseur réagissant avec du Si. Il est l’auteur ou le co-auteur de plus de 130 articles scientifiques.

Service à la communauté

François a été directeur (2019-2024) du Regroupement Québécois sur les Matériaux de Pointe (RQMP), un réseau de 500 personnes répartis sur trois campus universitaires québécois. Il est membre de l’Institut Courtois. En tant que responsable du Groupe de travail sur l’optique de la collaboration scientifique LIGO (depuis 2022), il coordonne un groupe de 120 chercheurs internationaux sur les revêtements de miroirs pour les détecteurs d’ondes gravitationnelles. Il a également été membre d’un grand nombre de comités dont le Conseil de SNOLAB (2010-2018) et de l’INRS (1995-1997), et de plusieurs comités d’évaluation des organismes subventionnaires. Il a en outre été membre de comités d’experts pour I’IAEA à quelques reprises, et a été l’organisateur principal des conférences internationales IBMM 2010 et IBA-PIXE 2025.